中国科学技术大学传来一项令人瞩目的科研新突破。该校的研究团队，包括潘建伟、张强和徐飞虎等科研人员，携手美国麻省理工学院及中国科学院西安光学精密机械研究所的专家，共同研发出一种全新的技术——主动光学强度干涉技术合成孔径技术。
这一创新技术首次在实验中被验证，成功实现了对位于1.36公里外毫米级目标的超清晰成像。相比传统干涉仪中的单台望远镜，这项新技术的实验系统在成像分辨率上有了显著提升，高达约14倍。
据了解，这项技术不仅突破了现有成像技术的局限，还为远距离高精度成像提供了新的可能。它在科研、国防、环境监测等多个领域都具有广泛的应用前景。
该研究成果在国际学术界引起了广泛关注，并于5月9日在权威学术期刊《物理评论快报》上发表。这一发表不仅标志着中国科学技术大学在光学成像技术领域的又一重大进展，也展示了中国科研团队在全球科技竞争中的强劲实力。
此次合作研究不仅加深了中美两国在科技领域的交流与合作，也为全球科研工作者提供了宝贵的经验和启示。未来，随着技术的不断发展和完善，这项技术有望在更多领域发挥重要作用，为人类社会的科技进步贡献力量。
